我有一個(gè)牽扯信號(hào)和電路的問題:我的信息存儲(chǔ)處理設(shè)備輻射未知頻段的電波,有人可以用極弱磁檢測(cè)設(shè)備接收到電波并從電波中通過模式識(shí)別可以解讀分析出存儲(chǔ)的信息造成信息泄露,但由于電波極微弱,我們無法確定電波所在頻段,無法疊加同頻段電波進(jìn)行干擾。我推測(cè)他們接收到電波后為了獲取信息必須進(jìn)行這個(gè)環(huán)節(jié):將電波轉(zhuǎn)換成的模擬電壓波形進(jìn)行采樣變成數(shù)字信號(hào),具體采樣頻率量化位數(shù)咱們未知。我打算采用掃頻干擾的方式改變他們獲得的模擬電壓的瞬時(shí)值,但是由于掃頻信號(hào)落入輻射未知電波頻段的時(shí)刻是離散出現(xiàn)的,可能跟采樣時(shí)刻不能全部同時(shí),甚至多數(shù)采樣時(shí)刻都不同時(shí)。這個(gè)問題牽扯掃頻頻率和采樣頻率問題,還牽扯一個(gè)掃頻周期內(nèi)掃頻頻點(diǎn)點(diǎn)數(shù)問題,還有掃頻起始時(shí)刻和采樣開始時(shí)刻,假設(shè)掃頻頻率范圍限定在20千赫茲到50兆赫茲范圍,并分成四五段分別掃,掃頻頻點(diǎn)間隔大于等于1千赫茲,可能還有我沒考慮到的問題。請(qǐng)?jiān)O(shè)置DDS掃頻電路參數(shù),怎樣掃頻,才能盡可能使掃頻信號(hào)落入未知頻段時(shí)刻和采樣時(shí)刻同時(shí)的概率較多。
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